(来学网)X线头影测量的主要应用有
  • A.
    (来学网)可研究颅面生长发育
  • B.
    可对牙(来学网)、颅面畸形作诊断分析
  • C.
    可确定错(来学网)畸形的矫治设计
  • D.
    (来学网)可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
  • E.
    (来学网)可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
正确答案:
ABCDE