噪声可分为扫描噪声和组织噪声。扫描噪声主要与以下因素有关：探测器因素，如探测器的数量和灵敏度、像素大小、扫描层厚等；Ⅹ线量及算法选择等因素，如管电流、扫描时间等电子线路及机械方面、重建或重组方法的选择以及散乱射线等也会引起噪声。组织噪声是由各种组织平均CT值差异所致。FOV与噪声无关