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400-069-0776
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(来学网)
X线头影测量的主要应用有
A.
(来学网)
可研究颅面生长发育
B.
可对牙
(来学网)
、颅面畸形作诊断分析
C.
可确定错
(来学网)
畸形的矫治设计
D.
(来学网)
可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
E.
(来学网)
可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
正确答案:
ABCDE
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仿真试题
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